VAIO S11 / VAIO Pro 11 | mk2の品質試験

全機種共通品質試験に加え、専用の品質試験を実施しています。
ハードなビジネスモバイル活用に耐える堅牢性を実現しました。

過去モデル

耐擦り傷試験

ハードコーティングで傷がつきにくい耐久性を追及。

電車や車で移動する際、PCはさまざまな種類の揺れにさらされます。特に、外出することの多いユーザーの場合、ACアダプターなどの擦れにより発生する傷がその美観を大きく損ねます。そこでVAIO S11では本体にUVコーティングを施すことで傷が付きにくいようにしています。この振動試験では、VAIOを試験台に固定した上にACアダプターを置き、振動させることで、表面の傷つきにくいことを評価しています。

※ACアダプターは品質試験用です。

ペン挟み試験

ペンを挟んで液晶を閉じた場合の耐久性を追求。

ペン挟み試験の目的は、鞄の中で知らない間にペンなどを挟んでしまいそのままの状態で圧力をかけられた場合でも、内部の基板やデバイス、大切なデータを守りきる強さを実現することです。試験では、ペンを想定した直径10mmのプラスチックの円筒状の棒を挟み、液晶を閉じます。左右両方で、1回ずつ。何が起きるかを詳細に確認することで、内部だけでなく液晶や筐体の破損を防ぐ対策を施します。思わぬ危険が数多く潜んでいる鞄の中。それでも、気軽に持ち出せるだけの耐久性を追求しています。

加圧振動試験

揺れる満員電車の重圧からデータを守る堅牢性を追求。

加圧振動試験の目的は、大きな圧力と振動がかかった状態でも壊れないタフな1台を実現することです。通勤ラッシュ時の身動きがとれない場面などを想定しています。鞄に入れた状態で満員電車に乗った場合、天面方向また底面方向のどちらからも押されるため、液晶ディスプレイ、キーボード、本体のすべてにサンドイッチ状態で力がかかります。そこで加圧振動試験では、万力と同じ原理で圧力をかける機械を使い、VAIOの本体に150kgf*もの大きな圧力を加えます。そして、そのままの状態で振動試験機に固定して、一定時間圧力と振動を与え続け、動作を確認します。VAIOの特長のひとつはその薄さにありますが、このような過酷な試験を通じて、満員電車の重圧にも負けない最高クラスの堅牢性を追求しています。

*kgf=1キログラム (kg) の質量が標準重力加速度のもとで受ける重力の大きさのこと。重量キログラム。

角衝撃試験

無造作に机の上等に置いたときの衝撃に対する耐性を追求。

角衝撃試験の目的は、日々繰り返されるストレスから筐体を守る耐性を実現することです。片手でPCを置いたとき、机にぶつかる角には想像以上の衝撃がかかります。そこで角衝撃試験では、独自の試験機により、5㎝の高さからの落下を5000回。4つの角すべてで行います。1回1回は小さな力ですが、何度も連続して蓄積される衝撃は大きく、その大きな衝撃をはね返す耐性の高さを追求しています。

90cm落下試験

持ち運び時の落下に対する堅牢性を追求。

落下試験の目的は、落下の衝撃から本体の内部を可能な限り守ることです。小脇に抱えていて落下(90cm ※身長170cmの人の腰の高さを想定)、デスクより誤って床に落とした場合など、日常の使用シーンで起こり得る衝撃を想定しています。この衝撃を受けても基板やディスプレイなどのデバイスを守ることができれば、重要な部品が壊れたり、大切なデータを失うことを軽減できます。落下試験では、所定の高さからVAIOを落下させますが、強度が足りない場合は本体が変形したり、部品が飛び散ったりします。これを、筐体の天地、両側面、前後6面それぞれで行います。試験後の内部点検も含めて念入りに調べ、持ち歩きなどのさまざまなシーンで落下してしまった場合でも、ユーザーデータを守る堅牢性を追求しています。

本体ひ試験

突然の強いひねりからデータを守る堅牢性を追求。

本体ひねり試験の目的は、突然の強いひねりに対しても壊れにくい1台を実現することです。通勤ラッシュ時の急停車や、PCが人や荷物で押し付けられた状態などを想定しています。本体がしなるほどの圧力がかかった場合、液晶ディスプレイはもちろん、本体内部の基板やデバイスにも影響が届きます。本体がしなることで、基板やデバイスに大きなストレスがかかるため、破損や故障といった深刻な結果を招くことになります。本体ひねり試験では、まず本体の3つのコーナーを動かないように固定します。次に、加圧試験機を使って4つめのコーナーに大きな力をかけ、押し下げていきます。このようにして、目で見てもハッキリとわかるほど、大きなひねりが加えられます。試験後に電源を入れて、動作を確認。こういった過酷な試験を実施することで、満員電車の中で押されたときにも耐えられる堅牢性を追求しています。

液晶加圧試験

手・ひじ・鞄などで強く押しても液晶が壊れにくい構造を追求。

VAIOのモバイルノート専用試験では、さまざまなタイプの加圧試験を実施しています。その中でも、液晶ハウジング加圧試験の目的は、液晶側に大きな力が加えられた場合でも、液晶ディスプレイを守ることです。モバイルノートの場合、持ち運ぶ際に、液晶側を手で強く押してしまう状況も想定されます。液晶ディスプレイはVAIOを構成する部品の中でも重要な部品のひとつであり、破損してしまった場合、PC自体が使えなくなる可能性があります。そこで液晶加圧試験では、液晶側のハウジング(外装)を直接加圧するという試験を実施。液晶の周囲 を大きな力で押すことで、手・ひじ・鞄など、圧力をかけられるあらゆるケースに対応できるよう堅牢性を追求しています。

開閉試験

液晶ディスプレイの連続開閉で、
数年間の酷使に耐えうるヒンジを追求。

使用する度に開けたり閉めたりするノートPCの液晶ディスプレイ。膨大な回数におよぶ開閉を支えるのはヒンジです。VAIOでは、数年間の使用で想定される回数分の開閉試験を行うことで、堅牢なヒンジを実現しています。ヒンジにはディスプレイを制御する配線が通っているため、開閉によって断線が起きないかをチェックするために、開閉試験はパソコンを動作状態にして行っています。

※ 品質試験は、弊社の規格に基づいて特定の環境のもとで行われています。本製品の品質試験は、無破損・無事故を保証するものではなく、PCのデータを保証するものではありません。

Core™ i7 プロセッサー

インテル® Core™ i7プロセッサー
Intel Inside® 圧倒的なパフォーマンスを

Intel、インテル、Intel ロゴ、Intel Inside、Intel Inside ロゴ、Intel Atom、Intel Atom Inside、Intel Core、Core Inside、Intel vPro、vPro Inside、Celeron、Celeron Inside、Itanium、Itanium Inside、Pentium、Pentium Inside、Xeon、Xeon Phi、Xeon Inside、Ultrabook、Iris は、アメリカ合衆国および/またはその他の国における Intel Corporation の商標です。